4156B***半导体参数测试仪是Agilent下一代的***半导体参数测试仪，4156B为高级器件表征提供了***参数分析的实验室平台。较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156B还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。4156B是基于PC的参数分析和表征的解决方案，标准配置包括一个参数分析仪，Agilent I/CV 3.0 Lite自动测试软件， Windows XP Professional的操作系统。I/CV 3.0 Lite软件可以提供一个图形操作界面，具有强大的分析工具，探针台驱动，和自动测试工具特性? 4156B提供4个内置的高分辨率的源/监控单元（HPSMUs），两个电压源单元（VSUs）和两个电压监控单元（VMUs）? 1 fA 和0.2 uV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料? 全Kelvin，每个HRSMU有激励源、感应和接地端? 完成准静态的电容对电压测试? 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标? 用极低泄漏的SMUs测量***泄露特性? 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征? 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试? 用图形用户界面完成点击”测试? 基于Windows环境的图形数据分析能力? 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常? 待机模式不需要外部电源? 触发模式可以同步AC/DC测试。? IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据